近日，中國電科第四十、四十一研究所光電子一級計(jì)量站參與起草的國家標(biāo)準(zhǔn)——《單光子源性能表征及測量方法》通過國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)批準(zhǔn)正式發(fā)布，填補(bǔ)了國內(nèi)量子測量領(lǐng)域相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的空白，將于10月1日開始實(shí)施。

據(jù)悉，《單光子源性能表征及測量方法》提出的單光子源性能表征方法，為極微弱功率水平下量子和經(jīng)典光源的光譜、空間、時(shí)域分布等特性測量提供了可靠依據(jù)，極大提升了光譜輻射度的測量極限。該標(biāo)準(zhǔn)提供了單光子源的基本術(shù)語和定義，規(guī)范了核心產(chǎn)品性能測試方法，為我國量子測量領(lǐng)域科技、產(chǎn)業(yè)、標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)同發(fā)展奠定了堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)，填補(bǔ)了國內(nèi)量子測量領(lǐng)域相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的空白。（融媒體記者 周芳林 通訊員 王啟南）